Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов

Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов Автор(ы): Конакова Р. В. Кордош П. Тхорик Ю. А. и др.  Год издания: 1986  Издательство: Киев : Наукова думка  Количество страниц: 188  ISBN:   Язык: русский  Скачать книгу

В монографии систематизированы и обобщены результаты разработок методов прогнозирования надежности полупроводниковых лавинных диодов и исследований механизмов их деградации. Авторы существенно опираются на собственные исследования и разработки в этой области. Проанализированы различные механизмы деградации полупроводниковых лавинных диодов с р -n -переходом, гетеропереходом барьером Шоттки, Рассмотрены пути повышения их надежности. Для облегчения понимания процессов деградации лавинных диодов приведено краткое изложение физических основ лавинного размножения и результатов экспериментального изучения параметров, характеризующих процесс ударной ионизации в полупроводниках.Для научных работников и инженеров, связанных с исследованием и применением лавинных диодов, а также студентов вузов и аспирантов.